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技術(shù)文章

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帶你了解影響光譜儀性能的的一些因素光譜學(xué)測量的基礎(chǔ)是測量光輻射與波長的對應(yīng)關(guān)系。一般來說，光譜學(xué)測量的直接結(jié)果是由很多個(gè)離散的點(diǎn)構(gòu)成曲線，每個(gè)點(diǎn)的橫坐標(biāo)(X軸)是波長，縱坐標(biāo)(Y軸)是在這個(gè)波長處的強(qiáng)度。因此，一個(gè)光譜儀的性能，可以粗略地分為下面幾個(gè)大類：1.波長范圍波長范圍是光譜儀所能測量的波長區(qū)間。常見的光纖光譜儀的波長范圍是200-1100nm，也就是可以探測紫外光、可見光和短波近紅外光，可以擴(kuò)展至200-2500nm，覆蓋整個(gè)紫外-可見-近紅外波段。光柵及探測器的類型會影響波長范圍。一般來說，寬的波長...

3-1 2018

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